TF200薄膜厚度測量系統(tǒng) 參考價：面議
TF200薄膜厚度測量系統(tǒng)利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200薄膜...
PM200金屬圓片沖孔儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：PM200金屬圓片沖孔儀配套電鏡領域無失真投射電子顯微鏡（TEM）樣品制備。產(chǎn)品通過沖壓金屬薄片，得到需要的樣片，降低了人工制造的難度與減少了制備時間...
TJ100-SE電解雙噴減薄儀 參考價：面議
TJ100-SE電解雙噴減薄儀是一種觸摸屏控制，可視化、智能化，能夠進行獨立冷卻源精確控溫的金屬電鏡樣品制備設備，該設備具備制備參數(shù)可存貯、調(diào)用，樣品制備效果好...
電解雙噴減薄儀 參考價：面議
TJ100-SE電解雙噴減薄儀是一種觸摸屏控制，可視化、智能化，能夠進行獨立冷卻源精確控溫的金屬電鏡樣品制備設備，該設備具備制備參數(shù)可存貯、調(diào)用，樣品制備效果好...
THVP-50大屏數(shù)顯自動轉(zhuǎn)塔維氏硬度計 參考價：面議
該儀器采用觸摸屏操作、自動轉(zhuǎn)塔、閉環(huán)控制技術、自動測量。主要特點：電動加載閉環(huán)控制，自動施加載荷；自動轉(zhuǎn)塔功能，自動切換壓頭和物鏡的位置；試驗力自動修正，力的精...
FTIR-850傅里葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：FTIR-850是公司經(jīng)過改進和創(chuàng)新，推出的新款傅里葉變換紅外光譜儀，儀器性能顯著提高。具有分辨率高、擴展性好、性能穩(wěn)定、操作簡便、使用壽命長、維護成...
傅里葉變換紅外光譜儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：FTIR-650/FTIR-650G是國內(nèi)具有自主知識產(chǎn)權的傅里葉變換紅外光譜儀，具有性能穩(wěn)定、操作簡便、使用壽命長、維護成本低等特點，其產(chǎn)品性能及主...
SE-VE光譜橢偏儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學薄膜膜厚以及光學常數(shù)等信息。高性價比光學橢偏測量解決方案，緊...
SE-VM光譜橢偏儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速...
ME-L全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀 參考價：面議
ME-L是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了科研團隊在橢偏技術多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣...
DSA-X光學接觸角測量儀 參考價：面議
產(chǎn)品簡介：DSA-X光學接觸角測量儀配置高分辨率的高速工業(yè)相機搭配LED冷光源，獲得高清圖像并通過全新優(yōu)化的軟件進行計算擬合從而獲得準確的測試數(shù)據(jù)。儀器機構(gòu)結(jié)合...
Finder Insight小型拉曼光譜儀 參考價：面議
為滿足現(xiàn)場快速檢測多元化的需求，因此Finder lnsight系列增加了一款革命性的產(chǎn)品，因其小巧便攜性，功能的多樣性，被人稱之為“百變小金剛"。
SGC-10薄膜測厚儀 參考價：面議
SGC-10薄膜測厚儀適用于介質(zhì)，半導體，薄膜濾波器和液晶等薄膜和涂層的厚度測量。該薄膜測厚儀，是我公司與美國new-span公司合作研制的，采用new-spa...
高溫萬能試驗機WDW-100D 參考價：面議
高溫萬能試驗機WDW-100D可對各種金屬、非金屬及復合材料進行力學性能測試和分析研究，廣泛應用于航空航天、機械制造、塑料橡膠、陶瓷建材、金屬材料、建筑工程等行...
SSR-3000便攜式拉曼檢測儀 參考價：面議
SSR-3000便攜式拉曼檢測儀采用工業(yè)級的防水、防塵、防震、防摔設計，適合各種惡劣環(huán)境下使用，可靠性、穩(wěn)定性更高。設備自帶操作系統(tǒng)和人性化軟件交互界面，集成了...
PG150-PC激光平面干涉儀 參考價：面議
PG150-PC激光平面干涉儀是一種使用方便的光學精密計量儀器，主要用于平面類光學元件檢定和校準光學平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統(tǒng)和圖像采...
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